各国の特許審査に関連する情報が一括で参照できます
J-Plat Patにおいて、複数の国や地域に出願された同一発明の出願について、五大特許庁・WIPO-CASE1参加庁（PCT国際出願を含む）の特許審査に関連する情報（ドシエ情報）を、一括参照することが可能となりました。
例えば、各国における手続や審査の状況を一括で把握することができ、また、各種書類データを容易に取得することができます。
詳しくは特許庁HPをご覧ください。
https://www.jpo.go.jp/torikumi/kokusai/kokusai2/opd_manual.htm
例えば、各国における手続や審査の状況を一括で把握することができ、また、各種書類データを容易に取得することができます。
詳しくは特許庁HPをご覧ください。
https://www.jpo.go.jp/torikumi/kokusai/kokusai2/opd_manual.htm
